friends
 elmash
 olimp
 olimp
Главная » Рентген XT V 160C

Рентген XT V 160C

Рентгеноскопическая система XT V 160 имеет отличное разрешение при высоком увеличении. В ней используется открытая рентгеновская трубка NanoTechTM с оптимальным разрешением — 500 нм, при этом ее максимальное геометрическое увеличение достигает 2 400Х (системное – до 36 000Х).

Предназначена для:

  • Проведение рентгеновского неразрушающего контроля
  • Контроль пайки электронных компонентов, включая SMD-компоненты, ГИС, ИМС в корпусах BGA, µBGA, CSP, flip chip и QFP
  • Контроль электронных компонентов (входной контроль)
  • Контроль монтажа межсоединений  в чипе
  • Контроль установки кристаллов
  • Контроль провисания проводников внутри ИМС
  • Рентгеноскопия иных объектов для определения визуально скрытых дефектов

Опция компьютерной томографии 3D-CT позволяет получать объемную модель исследуемого образца и значительно расширяет возможности анализа при исследовании образцов повышенной сложности. Также с ее помощью реализуется анализ томографических срезов исследуемого образца.Отличительная возможность рентгеноскопической системы XT V 160  — возможность работы с различными типами детекторов, в том числе с Flat Panel (FPD). Подобная конструкция позволяет в несколько раз повысить скорость получения компьютерной томографии  по сравнению с детекторами типа Image Intensifier. Сочетание данных характеристик уникально и позволяет потребителям достигать сверхчеткого и бесшумного изображения.Манипулирование исследуемым объектом выполняется с помощью моторизованного привода, позволяющего выполнять перемещение по осям X, Y, Z. Исследование образца под углом реализуется за счет программируемого наклона детектора и поворота рабочего стола.  Такое исполнение манипулятора (5-ти осевой манипулятор) позволяет сохранять на неизменном уровне увеличение исследуемого образца даже при крайних положениях детектора. 

Опции:

  • Опция для подсчета компонентов в катушках на рентгеноскопических системах Nikon

Технические характеристики:



XT V 160C XT V 130C
Максимальное напряжение 160 кВ 130 кВ
Максимальная мощность 20 Вт 10 Вт
Тип трубки ткрытого типа с прострельной мишенью открытого типа с прострельной мишенью
Размер фокального пятна 1,2 0,25-1 мкм 3 мкм
Минимальная величина распознаваемого элемента 1 500 нм 2 мкм
Геометрическое увеличение 2,5-2400x 2,5-1034xм
Системное увеличение   до 36,000х
Детектор (опционально) Varex 2520D (2,85 МПикс, 16 бит) плоскопанельный  Varex 1512 (2,85 МПикс, 14 бит) плоскопанельный  Varex 1515DX (1,3 МПикс, 16 бит) плоскопанельный Varex 1313DX (1 МПикс, 16 бит) плоскопанельный 
Манипулятор 5 осей (X, Y, Z, T, R) 4 оси (X, Y, Z, T)
Поворотный стол для КТ включен опционально
Наклон 0-75 градуса 0-72 градуса
Максимальный размер образца наибольшая площадь на одиночной карте квадрата за один снимок 406×406 мм, абсолютный максимум 711×762 мм  наибольшая площадь на одиночной карте квадрата за один снимок 406×406 мм, абсолютный максимум 711×762 мм 
Максимальный вес образца 5 кг 5 кг
Разрешение дисплея 3840×2160 Пикс (4К) 3840×2160 Пикс (4К)
Габариты кабинета (ШхГхВ) 1,200×1,786×1,916 мм 1,200×1,786×1,916 мм
Вес 1935-2100 кг (в зависимости от комплектации) 1935-2100 кг (в зависимости от комплектации)
Радиационная безопасность менее 1 мкЗв/ч менее 1 мкЗв/ч
Программное обеспечение Inspect-X для анализа и контроля Inspect-X для анализа и контроля
Автоматическая инспекция включена опционально
Компьютерная томография опционально опционально
Опция ламинографии X-Tract опционально нет
Основные области применения автоматическая инспекция и анализ дефектов электронных компонентов и полупроводников в режиме реального времени автоматическая инспекция электронных компонентов
Яндекс.Метрика
Сервис звонка с сайта RedConnect